El grupo FEMAN del Instituto de Nanociencia y Nanotecnología de la Universidad de Barcelona está realizando un proyecto orientado a desarrollar un nuevo tipo de microscopio para mejorar las prestaciones de los actuales microscopios de luz polarizada. El nuevo microscopio, que  se denomina  Microscopio de Matriz de Mueller, permite medir con resolución micrométrica la matriz de Mueller de cualquier muestra (la matriz de Mueller es una matriz 4×4 que describe como una muestra altera un haz de luz polarizado).

Podemos resumir las ventajas de un Microscopio de Matriz de Mueller en comparación a un microscopio de polarización convencional en los dos puntos siguientes:

1)      Las medidas se realizan de manera automática y son cuantitativas en vez de cualitativas. Los datos experimentales se digitalizan con un detector CMOS y se procesan in situ para obtener medidas simultáneas de todos los elementos de la matriz de Mueller.

2)      A partir de la matriz de Mueller, el sistema de tratamiento de datos proporciona  las siguientes propiedades ópticas: birrefringencia lineal, dicroísmo lineal, birrefringencia circular, dicroísmo circular y despolarización.

Microscopio convencional modificado para funcionar como Microscopio de matriz de Mueller.

El funcionamiento del microscopio se basa en dos compensadores rotatorios que giran a distintas frecuencias.  El principio de funcionamiento y el primer prototipo fueron descritos en la publicación: Oriol Arteaga, et al. “Mueller matrix microscope with a dual continuous rotating compensator setup and digital demodulation»,  Appl. Opt. 53, 2236-2245 (2014). El proyecto se está llevando a cabo con la colaboración técnica de A.COLOMA Microscopios y Aparatos Ópticos y, actualmente, trabajamos conjuntamente para poder ofrecer soluciones de microscopía de matriz de Mueller para usuarios que deseen profundizar en sus investigaciones con luz polarizada.

El responsable del proyecto es Oriol Arteaga y se le puede contactar en oarteaga@ub.edu