TECNALIA, el clúster de Aeronáutica HEGAN y la Plataforma Tecnológica de Fotónica, SECPhO (coordinador), han participado conjuntamente en el proyecto QUALICROM para analizar la calidad superficial de piezas cromadas de forma automatizada, empleando técnicas de ComputerVision.

La inspección y control de piezas cromadas ha sido tradicionalmente un problema debido a la dificultad visual de detectar los defectos superficiales que pueden aparecer durante el proceso de fabricación, tanto para personas como para equipos.

La innovación tecnológica desarrollada en el proyecto permite detectar los defectos sobre las piezas rápidamente y con total garantía, optimizando la fase de control y facilitando el flujo de trabajo. El nuevo sistema permitirá unificar y cuantificar los criterios de validación de producto y, a la vez, facilitar las tareas de los operarios, mejorando la ergonomía del puesto de trabajo y evitando la tareas repetitivas y visualmente muy fatigosa de inspección de superficies cromadas.

Se trata de un proyecto financiado por el Ministerio de Industria Energía y Turismo a través de la convocatoria para Agrupaciones Empresariales Innovadoras (AEI’S) que busca apoyar la colaboración entre socios de clusters excelentes como SECPhO y HEGAN.

Podéis encontrar más información en la web del proyecto QUALICROM clicando aquí